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運(yùn)用先進(jìn)的技術(shù)進(jìn)行基礎(chǔ)開發(fā)設(shè)計(jì)
緊湊型結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，X射線管、樣品、探測(cè)器之間更加精細(xì)緊密，大大提高信號(hào)強(qiáng)度
對(duì)用戶友善的全景+微區(qū)雙相機(jī)設(shè)計(jì)，觀察樣品更為全面，微區(qū)相機(jī)小至納米級(jí)別的分辨率，實(shí)現(xiàn)更為快速便捷的測(cè)試
射線光學(xué)系統(tǒng)采用國(guó)際最新的多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù)，信號(hào)強(qiáng)度比金屬準(zhǔn)直系統(tǒng)高出數(shù)個(gè)等級(jí)
可選擇多毛細(xì)管，@ 25μm、15μm、5μm FWHM等，滿足用戶測(cè)試需求
多導(dǎo)毛細(xì)聚焦光學(xué)元件的光束尺寸可小至5um，可測(cè)量一般金屬準(zhǔn)直器無(wú)法測(cè)量的微區(qū)
獨(dú)特的光學(xué)器件，可以測(cè)量微電子產(chǎn)品、高級(jí)電路板、連接器、引腳框架和芯片的超威小區(qū)域?？梢詼y(cè)量納米級(jí)的鍍層，常規(guī)鍍層測(cè)試游刃有余
可以同時(shí)測(cè)試23層鍍層和24種元素
測(cè)量范圍：從鋁（13）到鈾（92）之間的元素分析從元素鋰（3）到鈾（92）的涂鍍層厚度可以測(cè)量
無(wú)標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量，內(nèi)部設(shè)定12種純?cè)毓庾V庫(kù)
可程式設(shè)計(jì)自動(dòng)位移平臺(tái)，無(wú)人值守、自動(dòng)檢測(cè)樣品
圖像識(shí)別功能，自動(dòng)判定測(cè)試位置
完全符合DIN ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)
